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日本山武AZBIL光電開(kāi)關(guān)接線(xiàn)圖
日本山武AZBIL光電開(kāi)關(guān)接線(xiàn)圖采用獨自的光學(xué)系實(shí)現了穩定檢測、省空間,支持失效保護。晶元匹配時(shí)使用的狹光光纖單元、LED等微小部品的落下檢測用光纖單元采用適合用途的光學(xué)設計及筐體設計,使高檢測與省空間得到了統,減少了調整工時(shí),也提高了維護性。
日本山武AZBIL光電開(kāi)關(guān)接線(xiàn)圖
實(shí)現了作為通用光電開(kāi)關(guān)的標準型的容易使用和高性
簡(jiǎn)便的操作性、各種連接方式、長(cháng)距離檢測、保護構造設計
Mainly used for the detection of semiconductor liquid crystal manufacturing when the exposed light, wash,
heat treatment process used by the liquid, pure water and other liquid,
Using a separate optical system to achieve a stable detection, space-saving, to support failure protection.
多通道控制器可對通道間的數據進(jìn)行運算。
可減少上位機器程序的編制時(shí)間、簡(jiǎn)單地實(shí)現厚度及寬度的檢測。
K1G系列 平行光激光與CMOS線(xiàn)性圖像傳感器組合、對工件位置進(jìn)行高精度檢測。
Can reduce the preparation of the upper machine program time, simply to achieve the thickness and width of the detection.
山武光電開(kāi)關(guān)操作簡(jiǎn)單,AZBIL光電開(kāi)關(guān)接線(xiàn)圖
HLA系列 長(cháng)距離激光位移傳感器
HLA系列 通過(guò)直接反射實(shí)現高精度距離檢測
根據用途的各種應用
檢測方式:透過(guò)型、反射型、回歸反射型(偏光反射型)、測距式
各種用途:耐環(huán)境用、液體檢測用、基板檢測用、玻璃基板檢測用、位移檢測用
K1G系列備有可*減少到能「檢測」為止的作業(yè)時(shí)間的功能。
The K1G series is equipped with a function that can be compley reduced to the time required for "detection".
The multi-channel controller can calculate the data between channels.
主要用于半導體及液晶制造工序檢測使用的藥液、
純水等的液面或漏液晶元匹配用光纖單元或LED等微小部品的落下檢測用光纖單元等特定用途的光學(xué)式傳感器系列。
主要用于檢測半導體?液晶制造時(shí)的露光、洗凈、熱處理工序所使用的藥液、純水等的液面、漏液, HLA系列通過(guò)直接反射實(shí)現高精度距離檢測
主要用于半導體和液晶制造工藝測試使用的液體,
純水等,或用于液晶單元或LED等液晶單元的發(fā)光元件等
日本山武AZBIL光電開(kāi)關(guān)接線(xiàn)圖